超高速可飽和吸収体光ゲートを用いた全光識別回路の識別特性
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概要
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前回我々は、数psの応答時間を有する超高速MQW反射型可飽和吸収体光ゲートを用いた全光識別回路を提案し、2.4Gb/sでの光識別実験を行った。今回、この光識別回路の位相余裕を調べた。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-03-11
著者
-
高橋 亮
Ntt光エレクトロニクス研究所
-
平野 章
NTT光ネットワークシステム研究所
-
萩本 和男
NTT光ネットワークシステム研究所
-
津田 裕之
慶応義塾大学理工学部
-
津田 裕之
日本電信電話株式会社 光エレクトロニクス研究所
-
佐藤 憲史
NTT光エレクトロニクス研究所
-
津田 裕之
NTT光ネットワークシステム研究所
-
津田 裕之
Keio Univ. Yokohama‐shi Jpn
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