歪量子井戸レーザにおけるキャリア再結合係数のSCH構造依存性
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概要
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量子井戸、歪量子井戸レーザにおいて、レーザの動特性を決める要因の一つであるキャリア寿命時間がSCH構造に依存することが理論的に指摘されている。われわれはInGaAs, InGaAsP歪量子井戸レーザにおいて,キャリア寿命時間を決めている最も基本的なパラメータであるキャリアの再結合係数のSCH構造依存性を実験的に評価した。その結果,実効的な再結合係数はSCH層の層厚,組成波長に強く依存し,層厚が厚くなるほど,また組成波長が長波長になるほど小さくなることがわかった。この現象はキャリアのSCHでの拡散と井戸中からSCH層への熱的励起を考慮したモデルで説明できることがわかった。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1993-07-26
著者
-
田中 一弘
富士通株式会社
-
若尾 清秀
(株)富士通研究所
-
小田川 哲史
富士通研究所
-
田中 一弘
富士通研究所
-
若尾 清秀
富士通研究所
-
中嶋 薫
(株)富士通研究所
-
延原 裕之
富士通株式会社
-
中嶋 薫
富士通研究所
-
延原 裕之
富士通研究所
-
小田川 哲史
富士通
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