状態遷移仕様からのテストデータ生成方式

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概要

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現在、我々は家電製品等に組み込まれる小規模制御用ソフトウェアの開発を支援する一貫支援環境の構築を行っている。本環境では状態遷移に基づく形式的仕様記述(状態遷移仕様記述)をもとに、プログラムの自動合成とテストという2つの方向からの支援を目指している。従来、制御用のソフトウェアに対して仕様全体をテストすることは困難であり、重要な部分や誤りの発生しやすい部分をりストアップし、テストするという形がとられていた。しかし、この方法ではシステム全体として仕様をみたしているかを検証するのは難しい。そこで、本環境では状態遷移仕様からのテストデータ自動生成により、テストの十分性を高めるとともに省力化を図り、ソフトウエア開発の生産性・信頼性の向上を実現するアプローチをとる。本稿では、テスト支援の中心的技術課題のひとつである、状態遷移仕様からのテストデータ生成方式について述べる。
一般社団法人情報処理学会の論文
1991-02-25

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