MOCVD成長によるInP/InGaAs HBTの信頼性

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概要

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• 2008-06-06

著者

• 塩島 謙次

  福井大学大学院工学研究科

• 福島 慶広

  福井大学大学院工学研究科

• 荻須 啓太

  福井大学大学院工学研究科

• 荒木 賀行

  NTTアドバンスドテクノロジ

• 横浜 秀雄

  NTTアドバンスドテクノロジ

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