荻須 啓太 | 福井大学大学院工学研究科

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概要

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• 同名の論文著者
• 福井大学大学院工学研究科の論文著者

関連著者

• 塩島 謙次

  福井大学大学院工学研究科

• 福島 慶広

  福井大学大学院工学研究科

• 荻須 啓太

  福井大学大学院工学研究科

• 葛原 正明

  福井大学大学院工学研究科

• 塩島 謙次

  福井大学大学院工学研究科電気・電子工学専攻

• 葛原 正明

  福井大学大学院工学研究科電気・電子工学

• 荒木 賀行

  NTTアドバンスドテクノロジ

• 横浜 秀雄

  NTTアドバンスドテクノロジ

• 葛原 正明

  福井大学 大学院工学研究科 電気・電子工学専攻

著作論文

• p-GaNショットキー接触のI-V,G-V特性 : キャリア濃度,金属仕事関数依存性(半導体のプロセス・デバイス(表面,界面,信頼性,一般))
• p-GaNショットキー接触のI-V, C-V特性 : 金属仕事関数依存性
• MOCVD成長によるInP/InGaAs HBTの信頼性(半導体のプロセス・デバイス(表面,界面,信頼性,一般))
• p-GaNショットキー接触のI-V, C-V特性 : キャリア濃度, 金属仕事関数依存性
• MOCVD成長によるInP/InGaAs HBTの信頼性

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