荒木 賀行 | NTTアドバンスドテクノロジ

スポンサーリンク

概要

• 荒木 賀行の詳細を見る
• 同名の論文著者
• NTTアドバンスドテクノロジの論文著者

関連著者

• 荒木 賀行

  NTTアドバンスドテクノロジ

• 塩島 謙次

  福井大学大学院工学研究科

• 福島 慶広

  福井大学大学院工学研究科

• 荻須 啓太

  福井大学大学院工学研究科

• 入戸野 巧

  Nttシステムエレクトロニクス研究所

• 横浜 秀雄

  NTTアドバンスドテクノロジ

• 日向 文明

  Nttシステムエレクトロニクス研究所

• 塩島 謙次

  福井大学大学院工学研究科電気・電子工学専攻

著作論文

• MOCVD成長によるInP/InGaAs HBTの信頼性(半導体のプロセス・デバイス(表面,界面,信頼性,一般))
• 分光エリプソメトリー及びX線回折によるInGaP/InGaAs HFET構造の非破壊評価
• 分光エリプソメトリー及びX線回折によるInGaP/InGaAs HFET構造の非破壊評価
• GaAs,InP系エピ結晶と結晶評価技術 (特集 化合物半導体の可能性を再点検する)
• MOCVD成長によるInP/InGaAs HBTの信頼性

スポンサーリンク