高出力純青色GaN系半導体レーザの結晶欠陥と劣化現象
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概要
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- 2007-12-14
著者
-
後藤 修
ソニー(株)
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冨谷 茂隆
ソニー株式会社先端マテリアル研究所
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冨谷 茂隆
ソニー(株)マテリアル研究所 材料解析センター
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田中 隆之
ソニー白石セミコンダクタ(株)
-
太田 誠
ソニー白石セミコンダクタ(株)
-
池田 昌夫
ソニー(株)
-
後藤 修
京都大学大学院・情報学研究科・知能情報学専攻
-
池田 昌夫
ソニー株式会社先端マテリアル研究所
-
大泉 善嗣
ソニー白石セミコンダクタ(株)
-
庄司 美和子
ソニー白石セミコンダクタ(株)
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保科 幸男
ソニー白石セミコンダクタ(株)
-
矢吹 義文
ソニー白石セミコンダクタ(株)
-
後藤 修
沖電気工業(株)半導体技術研究所
-
後藤 修
慶應義塾大学病院腫瘍センター
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