劣化GaN系半導体レーザ中の結晶欠陥
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概要
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- 2003-09-25
著者
-
後藤 修
ソニー(株)
-
冨谷 茂隆
ソニー株式会社先端マテリアル研究所
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冨谷 茂隆
ソニー(株)マテリアル研究所 材料解析センター
-
池田 昌夫
ソニー白石セミコンダクタ株式会社
-
池田 昌夫
ソニー(株)
-
後藤 修
京都大学大学院・情報学研究科・知能情報学専攻
-
池田 昌夫
ソニー株式会社先端マテリアル研究所
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後藤 修
ソニー白石セミコンダクタ(株) 設計生産技術部
-
竹谷 元伸
ソニー白石セミコンダクター(株)開発センター
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後藤 修
沖電気工業(株)半導体技術研究所
-
後藤 修
慶應義塾大学病院腫瘍センター
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