A New Method for Accurately Measuring Temperature Dependence of Refractive Index
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概要
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- 2005-03-01
著者
-
TOMIKI Masahiro
Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering, Shizuoka University
-
KURIHARA Naohiro
Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering, Shizuoka University
-
SUGIHARA Okihiro
Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials, Tohoku University
-
OKAMOTO Naomichi
Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering, Shizuoka University
-
杉原 興浩
東北大学多元物質科学研究所
-
Tomiki M
Shizuoka Univ. Hamamatsu Jpn
-
Sugihara Okihiro
Institute Of Multidisciplinary Research For Advanced Materials (imram) Tohoku University
-
Sugihara Okihiro
Tohoku Univ. Institute Of Multidisciplinary Research For Advanced Materials
-
Sugihara Okihiro
The Graduate School Of Electronics And Technology Shizuoka University
-
Kurihara Naohiro
Department Of Electrical And Electronic Engineering Faculty Of Engineering Shizuoka University
-
Okamoto N
Shizuoka Univ. Dept. Of Electrical And Electronic Eng.
-
Tomiki Masahiro
Department Of Electrical And Electronic Engineering Faculty Of Engineering Shizuoka University
-
Okamoto N
The Faculty Of Engineering Shizuoka University
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