光学式Vブロック方式による多断面真円度測定装置の開発(第2報) : 実機試験による性能評価
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概要
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- 2000-03-01
著者
-
柳 和久
長岡技術科学大学工学部
-
柳 和久
長岡技術科学大学工学部機械系
-
柳 和久
長岡技術科学大学工作センター
-
山田 隆一
長岡工業高等専門学校
-
山田 隆一
長岡工業高等専門学校機械工学科
-
横田 篤也
長岡技術科学大学大学院
-
柳 和久
長岡技術科学大学
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