格子状パターンスケールを用いた光学式2次元座標測定機の不確かさ解析
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概要
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- 1998-03-05
著者
-
柳 和久
長岡技術科学大学工学部
-
池田 学
大阪大学大学院工学研究科精密科学専攻
-
柳 和久
長岡技術科学大学工学部機械系
-
柳 和久
長岡技術科学大学工作センター
-
山本 巧
(株)ジャパン・イー・エム
-
田井 慎一
長岡技術科学大学 工学部
-
星山 浩樹
(株)ジャパン・イー・エム
-
作田 泰宣
(株)ジャパン・イー・エム
-
池田 学
(株)ジャパン・イー・エム
-
柳 和久
長岡技術科学大学
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