312 光学式仮想Vブロック方式によるスピンドル回転誤差測定(OS10 加工計測・評価)
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概要
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A run-out measuring instrument with capacitance displacement probe is widely used in industry. However, this measurement method has the defect that measurement result depend on a feature of measured object. Furthermore, attachment error between measured object and spindle is never detected in measurement at are section. In this paper, we compare the optical measurement by virtual V-block method which does not depend on a feature of a measured subject to 2-point method with capacitance displacement probe in view of measurement principle. And we show how to separate the attachment error from the run-out error of a spindle.
- 社団法人日本機械学会の論文
- 2004-11-19
著者
-
柳 和久
長岡技術科学大学工学部
-
山田 隆一
長岡高専
-
柳 和久
長岡技術科学大学工学部機械系
-
柳 和久
長岡技術科学大学工作センター
-
山田 隆一
長岡工業高等専門学校機械工学科
-
石田 徹吾
長岡技術科学大院
-
柳 和久
長岡技術科学大学
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