沈 旭強 | 産業技術総合研究所
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概要
関連著者
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沈 旭強
産業技術総合研究所
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井手 利英
産業技術総合研究所
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森田 竜夫
パナソニック株式会社
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田中 毅
パナソニック株式会社
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上田 哲三
パナソニック株式会社
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沈 旭強
産業技術総合研究所 パワーエレクトロニクス研究センター
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清水 三聡
産業技術総合研究所
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上田 哲三
パナソニック株式会社セミコンダクター社半導体デバイス研究センター
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松畑 洋文
産業技術総合研究所
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田中 毅
パナソニック株式会社セミコンダクター社半導体デバイス研究センター
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奥村 元
産業技術総合研究所
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奥村 元
産業技術総合研究所 パワーエレクトロニクス研究センター
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松畑 洋文
産総研エネルギー半導体エレ
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田中 毅
松下電器産業(株)半導体社半導体デバイス研究センター
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奥村 元
産業技術総合研
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清水 三聡
産業技術総合研究所パワーエレクトロニクス研究センター
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田中 毅
松下電器(株)半導体デバイス研究センター
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森田 竜夫
松下電器産業(株) 半導体社 半導体デバイス研究センター
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森田 竜夫
パナソニック株式会社 半導体デバイス研究センター
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幾原 雄一
東京大学工学部総合研究機構
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幾原 雄一
東京大学工学部
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岩本 知広
熊本大学大学院自然科学研究科
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岩本 知広
東京大学工学部総合研究機構
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井手 利英
産業技術総合研究所パワーエレクトロニクス研究センター
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幾原 雄一
東京大学工学系:東北大学WPI-AIMR:ファインセラミックスセンター
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幾原 雄一
東大工
著作論文
- 窒化物系半導体薄膜での転位密度減少の観察
- 超高圧超高分解能透過電子顕微鏡によるGaN極性直接評価とその応用(進展する窒化物半導体光・電子デバイスの現状,及び一般)
- 超高圧超高分解能透過電子顕微鏡によるGaN極性直接評価とその応用(進展する窒化物半導体光・電子デバイスの現状、及び一般)
- GaN-GIT双方向スイッチの高精度な等価回路モデル(窒化物半導体光・電子デバイス・材料,関連技術,及び一般)
- GaN-GIT双方向スイッチの高精度な等価回路モデル(窒化物半導体光・電子デバイス・材料,関連技術,及び一般)
- GaN-GIT双方向スイッチの高精度な等価回路モデル(窒化物半導体光・電子デバイス・材料,関連技術,及び一般)
- GaN-GIT双方向スイッチの高精度な等価回路モデル
- GaN-GIT双方向スイッチの高精度な等価回路モデル
- GaN-GIT双方向スイッチの高精度な等価回路モデル