眞田 克 | 高知工科大学
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概要
関連著者
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眞田 克
高知工科大学
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安富 泰輝
高知工科大学工学部電子・光システム工学科
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安富 泰輝
高知工科大学基盤工学専攻
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伊藤 誠吾
こなか電子工房技術グループ
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眞田 克
高知工科大学工学部電子・光システム工学科
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岸 和敬
高知工科大学
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眞田 克
高知工科大学基盤工学専攻
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橋田 啓示
ルネサスデザインシステムLSI第二本部
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古田 守
高知工科大学
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川原村 敏幸
高知工科大学
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眞田 克
高知工科大学電子・光システム工学科
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坂本 俊輔
高知工科大学電子・光システム工学科
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内田 貴之
京都大学大学院工学研究科
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古田 守
高知工科大学ナノテクノロジー研究所
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王 大鵬
高知工科大学 電子・光工学専攻
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眞田 克
高知工科大学システム工学群
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眞田 克
高知工科大学 システム工学群
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内田 貴之
高知工科大学 システム工学群
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王 大鵬
高知工科大学 ナノテクノロジー研究所
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川原村 敏幸
高知工科大学 ナノテクノロジー研究所
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古田 守
高知工科大学 環境理工学群
著作論文
- 書評「故障解析技術」二川清著(サロン)
- 開放故障に伴う不安定論理の固定化 : 簡易な故障診断技術を目指して(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
- 電源電流を用いたLSI評価法は再びよみがえるか?(電子デバイスの信頼性技術)
- 品質意識は実社会との交流でもたらされる : 大学でのLSI評価・解析を通した試み(信頼性・品質技術の教育)
- 開放故障に伴う不安定論理の固定化 : 簡易な故障診断技術を目指して(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
- DEFデータの視覚化による故障箇所候補の特定(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
- DEFデータの視覚化による故障箇所候補の特定(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
- 素子レベルによる故障診断技術 : 故障LSIの物理解析のためのアシスト技術(LSIのテスト・評価技術)
- 「星の王子さま」が伝えたかったこと
- LSIの進展に対する電源電流を用いた評価技術の推移
- I_を用いたLSIの劣化兆候の検出(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
- I_を用いたLSIの劣化兆候の検出(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
- 開放故障に伴う不安定論理の固定化(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
- 開放故障に伴う不安定論理の固定化(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
- CMOSトランジスタの動作点解析による故障箇所の特定(LSIを含む電子デバイスの評価・解析・診断,及び信頼性一般)
- 「星の王子さま」が伝えたかったこと
- LSIの信頼性と保全性 : 電流が教える劣化の兆候(2011年度第1回フォーラムより〜信頼性・安全性に関する特別セミナー〜)
- 第2回「科学技術教育フォーラム」に参加して(サロン)
- 江戸の庶民が競って奉納した和算解析法
- 書評 評価技術の型を伝授する「はじめてのデバイス評価技術」第2版, 二川清著, 森北出版(サロン)
- ミストCVD法によるAlOx薄膜作製に対するO3支援の効果
- 信頼性から見た平家一門の衰退
- 非真空プロセス「ミストCVD法」でのIGZO/AlO_x酸化物TFTの作製とその特性
- 準静電界センシングによるLSI内部構造の評価(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- 準静電界センシングによるLSI内部構造の評価(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- 準静電界センシングによるLSI内部構造の評価(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- 準静電界センシングによるLSI内部構造の評価(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)