岸 和敬 | 高知工科大学

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概要

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• 同名の論文著者
• 高知工科大学の論文著者

関連著者

• 眞田 克

  高知工科大学

• 岸 和敬

  高知工科大学

著作論文

• DEFデータの視覚化による故障箇所候補の特定(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
• DEFデータの視覚化による故障箇所候補の特定(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
• CMOSトランジスタの動作点解析による故障箇所の特定(LSIを含む電子デバイスの評価・解析・診断,及び信頼性一般)

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