CMOSトランジスタの動作点解析による故障箇所の特定(LSIを含む電子デバイスの評価・解析・診断,及び信頼性一般)
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概要
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診断精度の向上した,簡易で,高速処理可能な故障診断のソフトウェアを開発している.方式はレイアウトから特定した故障候補を回路に埋め込み,出力電圧値を算出する方式である.前者の故障候補は隣接,交差配線及び,スルーホールやコンタクトを充当する.後者の出力電圧値の算出はトランジスタ(Tr)の動作点をベースとする。まず,公知の方式で絞り込まれた故障エリア内のセルや回路をTrレベルの回路構成に展開する.そしてレイアウトによる故障候補を回路に埋め込む.次にこの故障候補に起因して形成する貫通電流回路網を特定する.その後,この回路網を構成する各TrにTrの動作点から算出したインピーダンス(Z)値及び,Tr構造のZ値を付加することでZ網に置き換える.このZ網を用いて各ノードの電圧値を算出する.この結果,簡易な手順で,精度の良く,短時間での診断が可能となった.報告ではこのアルゴリズムとプログラム内容を中心に述べる.
- 2011-05-06
著者
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