開放故障に伴う不安定論理の固定化 : 簡易な故障診断技術を目指して(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
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概要
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不安定な出力論理を有するフローテイングゲート故障に対して、出力論理値を固定化する実験を行った。実験はゲートオープン故障を作り込んだサンプルに対して、外部から刺激を印加する方式である。刺激はレーザ照射と電界印加である。電気的特性をモニタしながらその効果を調べた。その結果、前者はフローテング状態による種々の特性に関わりなく出力電圧値をHに固定化できた。後者はフローテング状態の電気的特性に重畳した特性として確認できた。これらの現象はゲートオープン故障箇所の特定や故障診断へのアシストとして適用できる。セル内故障診断において、論理固定化したモデルを回路に埋め込むことで確度の高い故障候補を特定できる。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2009-11-25
著者
-
眞田 克
高知工科大学工学部電子・光システム工学科
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橋田 啓示
ルネサスデザインシステムLSI第二本部
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安富 泰輝
高知工科大学工学部電子・光システム工学科
-
眞田 克
高知工科大学
-
安富 泰輝
高知工科大学基盤工学専攻
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