信頼性から見た平家一門の衰退

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 日本信頼性学会の論文
• 2014-01-01

著者

• 眞田 克

  高知工科大学

関連論文

• 書評「故障解析技術」二川清著(サロン)
• 開放故障に伴う不安定論理の固定化 : 簡易な故障診断技術を目指して(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
• 電源電流を用いたLSI評価法は再びよみがえるか?(電子デバイスの信頼性技術)
• 品質意識は実社会との交流でもたらされる : 大学でのLSI評価・解析を通した試み(信頼性・品質技術の教育)
• 開放故障に伴う不安定論理の固定化 : 簡易な故障診断技術を目指して(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
• DEFデータの視覚化による故障箇所候補の特定(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
• DEFデータの視覚化による故障箇所候補の特定(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
• 素子レベルによる故障診断技術 : 故障LSIの物理解析のためのアシスト技術(LSIのテスト・評価技術)
• 「星の王子さま」が伝えたかったこと
• LSIの進展に対する電源電流を用いた評価技術の推移
• I_を用いたLSIの劣化兆候の検出(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
• I_を用いたLSIの劣化兆候の検出(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
• 開放故障に伴う不安定論理の固定化(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
• 開放故障に伴う不安定論理の固定化(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
• CMOSトランジスタの動作点解析による故障箇所の特定(LSIを含む電子デバイスの評価・解析・診断,及び信頼性一般)
• 「星の王子さま」が伝えたかったこと
• LSIの信頼性と保全性 : 電流が教える劣化の兆候(2011年度第1回フォーラムより〜信頼性・安全性に関する特別セミナー〜)
• 第2回「科学技術教育フォーラム」に参加して(サロン)
• 江戸の庶民が競って奉納した和算解析法
• 書評 評価技術の型を伝授する「はじめてのデバイス評価技術」第2版, 二川清著, 森北出版(サロン)
• ミストCVD法によるAlOx薄膜作製に対するO3支援の効果
• 信頼性から見た平家一門の衰退
• 非真空プロセス「ミストCVD法」でのIGZO/AlO_x酸化物TFTの作製とその特性
• 準静電界センシングによるLSI内部構造の評価(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
• 準静電界センシングによるLSI内部構造の評価(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
• 準静電界センシングによるLSI内部構造の評価(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
• 準静電界センシングによるLSI内部構造の評価(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク