レーザ照射によるオープン故障LSIの論理の固定化
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
不安定な出力論理を有するフローティング・ゲート故障に対して出力論理値を固定化する実験を行った。実験はゲートオープン故障を作り込んだInverter回路に外部からレーザを照射する方式である。その結果、出力論理は“H”固定した。同時にIDD値も変動した。この変動値は正常状態の特性の動作点に一致した。レーザ照射を止めると特性は元の状態に戻った。この現象を検証するためにゲート電極を共通にしたInverter回路の一方側にレーザを照射し他方側の出力を測定した。その結果“H”に固定した。この実験はレーザを照射することで形成される電子がフローティング・ゲート電極へ入り込み電圧を低下させていると考える。単体Trによるレーザ照射実験と合わせてこの現象を述べる。
著者
関連論文
- 開放故障に伴う不安定論理の固定化 : 簡易な故障診断技術を目指して(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
- 開放故障に伴う不安定論理の固定化 : 簡易な故障診断技術を目指して(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
- レーザ照射によるオープン故障LSIの論理の固定化
- 開放故障に伴う不安定論理の固定化(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)
- 開放故障に伴う不安定論理の固定化(機構デバイスの信頼性、信頼性一般)