児玉 彰弘 | (株)ルネサス北日本セミコンダクタ 小平第2設計センタ
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概要
関連著者
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鷲尾 勝由
株式会社日立製作所中央研究所
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鷲尾 勝由
(株)日立製作所中央研究所ulsi研究部
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児玉 彰弘
(株)ルネサス北日本セミコンダクタ 小平第2設計センタ
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島本 裕巳
ルネサス北日本セミコンダクタ
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島本 裕己
日立デバイスエンジニアリング
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島本 裕巳
日立デバイス
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児玉 彰弘
日立デバイスエンジニアリング
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鷲尾 勝由
(株)日立製作所 中央研究所
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橋本 尚
日立製作所 デバイス開発センタ
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橋本 尚
(株)日立製作所 マイクロデバイス事業部
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清田 幸弘
日立
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清田 幸弘
日立製作所中央研究所
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有働 勉
日立超LSIシステムズ
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速水 礼子
日立製作所中央研究所
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鷲尾 勝由
日立製作所中央研究所
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三浦 真
日立製作所
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児玉 彰弘
(株)ルネサス北日本セミコンダクタ
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三浦 真
(株)日立製作所 中央研究所
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増田 徹
(株)日立製作所中央研究所
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白水 信弘
(株)日立製作所中央研究所
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中村 宝弘
(株)日立製作所中央研究所
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白水 信弘
株式会社日立製作所中央研究所
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増田 徹
株式会社日立製作所中央研究所
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中村 宝弘
株式会社日立製作所中央研究所
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大植 栄司
日立
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大植 栄司
(株)日立製作所中央研究所
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田邊 正倫
(株)ルネサス北日本セミコンダクタ
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島本 裕巳
(株)ルネサス北日本セミコンダクタ 小平第2設計センタ
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田邊 正倫
(株)ルネサス北日本セミコンダク
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中村 宝弘
株式会社日立製作所 中央研究所
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白水 信弘
株式会社日立製作所 中央研究所
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増田 徹
株式会社日立製作所 中央研究所
著作論文
- HC1フリー選択エピタキシャル成長によるSiGe HBT(III族窒化物研究の最前線)
- HClフリー選択エピタキシャル成長によるSiGe HBT(III族窒化物研究の最前線)
- HC1フリー選択エピタキシャル成長によるSiGe HBT(III族窒化物研究の最前線)
- C-2-48 オンウェハスパイラルインダクタ等価回路モデルの検討(C-2. マイクロ波B(受動デバイス), エレクトロニクス1)
- C-11-1 リングエミッタトランジスタTEGを用いた自己整合構造SiGe HBTのベース抵抗評価(C-11.シリコン材料・デバイス,一般講演)
- C-11-1 超高速 SiGe HBT におけるエミッタ・アスペクト比の最適化検討