有働 勉 | 日立超LSIシステムズ
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概要
関連著者
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橋本 尚
日立製作所 デバイス開発センタ
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鷲尾 勝由
株式会社日立製作所中央研究所
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鷲尾 勝由
(株)日立製作所中央研究所ulsi研究部
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橋本 尚
(株)日立製作所 マイクロデバイス事業部
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有働 勉
日立超LSIシステムズ
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島本 裕巳
ルネサス北日本セミコンダクタ
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島本 裕己
日立デバイスエンジニアリング
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清田 幸弘
日立
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島本 裕巳
日立デバイス
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清田 幸弘
日立製作所中央研究所
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児玉 彰弘
日立デバイスエンジニアリング
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速水 礼子
日立製作所中央研究所
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鷲尾 勝由
日立製作所中央研究所
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児玉 彰弘
(株)ルネサス北日本セミコンダクタ 小平第2設計センタ
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和田 真一郎
(株)日立製作所 マイクロデバイス事業部
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三浦 真
日立製作所
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和田 慎一郎
日立製作所 デバイス開発センタ
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鷲尾 勝由
日立
-
鷲尾 勝由
日立中央研究所
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橋本 尚
日立・システム研
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冨成 達也
日立
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小結 薫
日立
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細江 英之
日立
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藤原 裕章
日立超L
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新井 満
日立超LSIエンジニアリング
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細江 英之
(株)日立製作所 デバイス開発センタ
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和田 真一朗
日立
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徳永 和明
日立
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吉田 仁紀
日立
-
久保 真紀
日立
-
瀬戸 基司
日立超L
-
島本 裕己
ルネサス北セミ
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新井 満
日立超l
-
有働 勉
日立超L
著作論文
- 超高速200-GHz SiGe:C HBT技術
- HC1フリー選択エピタキシャル成長によるSiGe HBT(III族窒化物研究の最前線)
- HClフリー選択エピタキシャル成長によるSiGe HBT(III族窒化物研究の最前線)
- HC1フリー選択エピタキシャル成長によるSiGe HBT(III族窒化物研究の最前線)