高橋 庸夫 | 日本電信電話株式会社NTT物性科学基礎研究所

スポンサーリンク

概要

• 同名の論文著者
• 日本電信電話株式会社NTT物性科学基礎研究所の論文著者

関連著者

• 藤原 聡

  日本電信電話(株)NTT物性科学基礎研究所

• 高橋 庸夫

  日本電信電話株式会社NTT物性科学基礎研究所

• 高橋 庸夫

  北海道大学 大学院情報科学研究科

• 高橋 庸夫

  北海道大学情報科学研究科

• 藤原 聡

  Ntt物性科学基礎研究所

• 高橋 庸夫

  北大

• 小野 行徳

  NTT物性科学基礎研究所

• 猪川 洋

  静岡大学電子工学研究所

• 小野 行徳

  日本電信電話(株)NTT物性科学基礎研究所

• 平山 祥郎

  東北大理:erato-jst

• 猪川 洋

  日本電信電話(株)lsi研究所

• 高品 圭

  日本電信電話株式会社NTT物性科学基礎研究所

• 平山 祥郎

  日本電信電話株式会社NTT物性科学基礎研究所

• 高品 圭

  バース大物理

• 猪川 洋

  静岡大学 電子工学研究所

• 小野 行徳

  Ntt

• 永瀬 雅夫

  Ntt物性科学基礎研究所

• 堀口 誠二

  日本電信電話株式会社ntt物性科学基礎研究所

• 永瀬 雅夫

  日本電信電話(株)ntt物性科学基礎研究所

• 生津 英夫

  日本電信電話株式会社 NTT物性科学基礎研究所

• 栗原 健二

  NTTアドバンステクノロジ株式会社

• 永瀬 雅夫

  Ntt 物性科学基礎研

• 生津 英夫

  Ntt 物性科学基礎研

もっと見る 閉じる

著作論文

• 単電子の転送と検出デバイス
• 単電子トランジスタとMOSトランジスタを組み合わせた多値論理ならびに記憶回路
• 単電子トランジスタとMOSトフンジスタを組み合わせた多値論理ならびに記憶回路
• ダブルゲートMOSFETにおける谷と空間的サブバンドの制御 : シリコン量子井戸の電子状態(Functional Devices and Circuits, 先端デバイスの基礎と応用に関するアジアワークショップ(AWAD2005))
• ダブルゲートMOSFETにおける谷と空間的サブバンドの制御 : シリコン量子井戸の電子状態(Functional Devices and Circuits, 先端デバイスの基礎と応用に関するアジアワークショップ(AWAD2005))
• シリコンナノ構造でのパターン依存酸化現象の観察
• 21pTL-6 SIMOX MOSFET 中量子井戸の二次元電子系 : 谷分離と二層系
• Si細線における単一電荷の検出と操作

スポンサーリンク