島 久 | 産業技術総合研究所
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概要
関連著者
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島 久
産業技術総合研究所
-
秋永 広幸
産業技術総合研究所
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島 久
産業技術総合研究所ナノテクノロジー研究部門
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秋永 広幸
産業技術総合研
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粟屋 信義
シャープ株式会社 技術本部
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玉井 幸夫
シャープ株式会社 技術本部
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細井 康成
シャープ株式会社技術本部
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玉井 幸夫
シャープ株式会社技術本部
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大西 茂夫
シャープ株式会社技術本部
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粟屋 信義
シャープ株式会社技術本部
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大西 茂夫
シャープ株式会社 技術本部
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細井 康成
シャープ株式会社 技術本部
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秋永 広幸
産総研
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井上 公
産業技術総合研究所 強相関電子研究センター
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中野 貴司
シャープ株式会社 技術本部
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大西 哲也
シャープ株式会社 技術本部
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石原 数也
シャープ株式会社技術本部
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渋谷 隆広
シャープ株式会社技術本部
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井上 雄史
シャープ株式会社技術本部
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山崎 信夫
シャープ株式会社技術本部
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高木 英典
産業技術総合研究所強相関電子研究センター
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赤穂 博司
産業技術総合研究所強相関電子研究センター
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十倉 好紀
産業技術総合研究所強相関電子研究センター
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井上 雄史
シャープ株式会社 技術本部
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赤穂 博司
産総研
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山崎 信夫
シャープ株式会社 技術本部
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赤穂 博司
産業技術総合研究所 強相関電子研究センター
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渋谷 隆広
シャープ株式会社 技術本部
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石原 数也
シャープ株式会社 技術本部
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赤穂 博司
産総研・強相関電子技術セ
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秋永 広幸
産総研ナノテク
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赤穗 博司
産総研CERC
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DAVID Melanie
大阪大学大学院工学研究科精密科学・応用物理学専攻
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ROMAN Tanglaw
大阪大学大学院工学研究科精密科学・応用物理学専攻
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高野 史好
産業技術総合研究所
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島 久
産総研
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Dino Wilson
阪大工:阪大理:阪大ナノサイエンス・ナノテクノロジー研究推進機構:dlsu理
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Dino Wilson
大阪大学大学院理学研究科
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David Melanie
大阪大学大学院工学研究科 精密科学・応用物理学専攻
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Roman Tanglaw
大阪大学大学院工学研究科 精密科学・応用物理学専攻
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Kasai Haruo
Department Of Electronics Chiba University
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秋永 広幸
産業技術総合研究所 ナノテクノロジー研究部門
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辛 埴
東大物性研
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秋永 広幸
産総研ナノ機能合成プロ
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十倉 好紀
東大院工
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小嗣 真人
JASRI SPring-8
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Dino Wilson
阪大院理
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中西 寛
阪大院工
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大谷 義近
東大物性研
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谷内 敏之
東大物性研
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小嗣 真人
Jasri
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高野 史好
産総研
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笠井 秀明
大阪大学大学院工学研究科 精密科学・応用物理専攻
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笠井 秀明
大阪大学大学院工学研究科
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笠井 秀明
阪大工
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DINO Wilson
大阪大学大学院工学研究科応用物理学専攻
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中西 寛
大阪大学大学院工学研究科応用物理学専攻
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岸 浩史
大阪大学大学院工学研究科精密科学・応用物理学専攻
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尾澤 伸樹
大阪大学大学院工学研究科精密科学・応用物理学専攻
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ARBOLEDA Nelson
大阪大学大学院工学研究科精密科学・応用物理学専攻
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松本 茂野
阪大工
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David M.
阪大工
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Roman T.
阪大工
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Muhida R.
阪大工
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Dino Wilson
阪大ナノサイエンス・ナノテクノロジー研究推進機構
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国方 伸一
阪大工
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Muhida R.
大阪大学大学院工学研究科 精密科学・応用物理学専攻
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MUHIDA Rifki
大阪大学大学院工学研究科 精密科学・応用物理学専攻
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国方 伸一
阪大院工
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岸 浩史
阪大院工
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島津 武仁
東北大
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小嗣 真人
広島大学放射光科学研究センター
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松本 茂野
大阪大学大学院工学研究科 精密科学・応用物理学専攻
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Kasai Hideaki
Dep. Of Prec. Sci. & Tech. And App. Phys. Osaka Univ.
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Nakanishi Hirokazu
Department Of Materials Science And Engineering Graduate School Of Engineering
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Nakanishi Hiroshi
Dep. Of Prec. Sci. & Tech. And App. Phys. Osaka Univ.
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小谷 佳範
東大物性研
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秋永 広幸
産業技術総合研究所ナノテクノロジー研究部門
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蜂谷 智央
産総研
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大塚 照久
産総研
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谷内 敏之
東大物性研:JST-CREST
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中西 寛
大阪大学大学院工学研究科
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島 久
独立行政法人産業技術総合研究所ナノエレクトロニクス研究部門
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秋永 広幸
独立行政法人産業技術総合研究所 ナノデバイスセンター
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小嗣 真人
(公財)高輝度光科学研究センター(SPring-8/JASRI)
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秋永 広幸
独立行政法人産業技術総合研究所ナノエレクトロニクス研究部門
著作論文
- 二元系酸化物RRAM特性の電極材料依存性(メモリ技術(DRAM,SRAM,フラッシュ,新規メモリー))
- 高速ユニポーラスイッチングRRAM技術(新メモリ技術とシステムLSI)
- 高速ユニポーラスイッチングRRAM技術(IEDM(先端CMOSデバイス・プロセス技術))
- 高速ユニポーラスイッチングRRAM技術
- 密度汎関数理論に基づくTiO_2(アナターゼ)薄膜の反応性イオンエッチングの反応評価
- 25pPSB-36 遷移金属酸化物の反応性プラズマイオンエッチング : 第一原理計算に基づくプロセスデザイン(25pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 25pAC-10 レーザーを用いた超高空間分解能光電子顕微鏡による磁気イメージング(25pAC 光電子分光,領域5(光物性))
- 4. 機能性酸化物を用いた不揮発性メモリRRAM : メモリ動作の信頼性向上を目指して(酸化物エレクトロニクスの進展と将来展望)