微細AlGaN/GaN HEMTの耐圧特性に与えるバッファ層内不純物とフィールドプレートの影響の解析 (電子デバイス)

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概要

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• 2012-01-11

著者

• 堀尾 和重

  芝浦工業大学システム工学部

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