チャネル分割によるプログラマブル遅延素子の特性検証
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概要
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近年の LSI 性能の飛躍的に向上に伴い、製造プロセス微細化に起因する製造ばらつぎが顕著になってきている。この問題を解決する手法の 1 つとして、プログラマブル遅延素子 PDE(Programmable Delay Element) を利用した製造後の遅延調整に関する研究が広く紹介されはじめている。本研究では、MOS トランジスタのチャネル分割し、直列接続サブチャネル数を可変にすることにより遅延制御を行う PDE 回路を提案し、その遅延特性のチャネルサイズ依存性、温度依存性およびコーナー解析の検証を行う。さらに、0.6um/5V プロセスで製造した PDE 回路の実測評価を報告する。
- 2014-05-22
著者
-
中武 繁寿
北九州市立大学 大学院 国際環境工学研究科
-
張 宇
北九州市立大学大学院国際環境工学研究科
-
永尾 滉二
北九州市立大学大学院国際環境工学研究科情報工学専攻
-
張 宇
北九州市立大学大学院国際環境工学研究科情報工学専攻
-
室岡 大二郎
北九州市立大学大学院国際環境工学研究科情報工学専攻
-
中武 繁寿
北九州市立大学
-
張 宇
北九州市立大学大学院 国際環境研究科
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