走査トンネル顕微鏡を用いたポルフィリン分子の電気的特性の観察(材料デバイスサマーミーティング)
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概要
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我々は走査トンネル顕微鏡(Scanning Tunneling Microscopy: STM)/走査トンネル分光(Scanning Tunneling Spectroscopy: STS)によって1分子の電気的な特牲を観察し分子の機能を明らかにし、その機能を用いた固体基板上分子デバイスを実現することを目指している。今回、代表的なΠ共役系分子であるポルフィリン分子をAu(111)基板上に展開しSTM観察を行い、常温下においてSTS測定により1分子における電流-電圧特性を観察したところ、電流-電圧特性において電流が流れない領域が観察された。これはポルフィリン1分子の最高占有分子軌道(HOMO)と最低非占有分子軌道(LUMO)のエネルギーギャップと、単電子現象であるクーロンブロッケード現象を併せて観察していると考えられる。この結果は、このポルフィリン分子が常温にて二重トンネル接合の中間電極として作用することを示唆している。
- 2010-06-18
著者
-
真島 豊
東京工業大学大学院理工学研究科電子物理工学専攻
-
田中 健太郎
名古屋大学
-
皆川 慶嘉
東京工業大学応用セラミックス研究所
-
加納 伸也
東京工業大学応用セラミックス研究所
-
東 康男
東京工業大学応用セラミックス研究所
-
山田 泰之
名古屋大学大学院理学研究科
-
東 康男
東京工業大学理工学研究科電子物理工学専攻
-
山田 泰之
名古屋大学大学院理学研究科:crest-jst
-
田中 健太郎
名古屋大学大学院理学研究科:crest-jst
-
真島 豊
東京工業大学
-
加納 伸也
東京工業大学 応用セラミックス研究所
-
皆川 慶嘉
東京工業大学 応用セラミックス研究所
-
東 康男
東京工業大学 応用セラミックス研究所
-
田中 健太郎
名古屋大学大学院理学研究科物質理学専攻:CREST-JST
-
山田 泰之
名古屋大学大学院理学研究科物質理学専攻:CREST-JST
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