走査トンネル顕微鏡を用いたポルフィリン分子の電気的特性の観察 (電子部品・材料)
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概要
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- 2010-06-25
著者
-
真島 豊
東京工業大学大学院理工学研究科電子物理工学専攻
-
田中 健太郎
名古屋大学
-
皆川 慶嘉
東京工業大学応用セラミックス研究所
-
加納 伸也
東京工業大学応用セラミックス研究所
-
東 康男
東京工業大学応用セラミックス研究所
-
山田 泰之
名古屋大学大学院理学研究科
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