異常ホール効果を用いた微細磁性ドットの評価(記録システム及び一般)
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概要
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微細磁性ドットの磁化評価を目的とし,媒体膜構造におけるシート膜および微細磁性ドットアレイの異常ホール効果の基礎特性について検討するため,Co-Pt層の膜厚依存性およびRu下地層の膜厚依存性を調べた.媒体の異常ホール効果は,強磁性薄膜単体のホール効果において理論的に予想される結果と異なる傾向を示した.これはCo-Pt層を流れる電流密度が,膜構成によって変化するためだと考えられる.シート膜と磁性ドットアレイでは,基本的な傾向に違いが見られなかった.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2010-06-03
著者
-
近藤 祐治
AIT
-
山川 清志
秋田県産業技術総合研究センター
-
近藤 祐治
秋田県産業技術総合研究センター
-
有明 順
秋田県産業技術総合研究センター
-
木谷 貴則
秋田県産業技術総合研究センター
-
伊勢 和幸
秋田県産業技術総合研究センター
-
山川 清志
秋田県産業技術総合研究センタ
-
山川 清志
秋田県産業技術総合研究センター:東北大学電気通信研究所
-
山川 清志
秋田県産業技術総合研究センター 高度技術研究所
-
木谷 貴則
秋田県産業技術総合研究センター高度技術研究所
-
木谷 貴則
秋田県高度技術研究所
-
山川 清志
秋田県産業技術センター
-
山川 清志
秋田県産業技術セ
-
近藤 祐治
秋田県産業技術センター
-
有明 順
秋田県産業技術センター
-
伊勢 和幸
秋田県産業技術センター
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