27aRB-2 X線トポグラフィーによるイオン注入SiC単結晶の微細構造観察(27aRB 格子欠陥・ナノ構造(半導体・シミュレーション),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
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概要
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- 2009-03-03
著者
-
大谷 亮太
九州シンクロトロン光研究センター
-
平井 康晴
九州シンクロトロン光研究センター
-
平井 康晴
九州シンクロトロン
-
石地 耕太朗
九州シンクロ
-
石地 耕太朗
九州シンクロトロン
-
川戸 清爾
九州シンクロトロン光研究センター
-
長町 信治
(株)イオンテクノセンター
-
川戸 清爾
九州シンクロトロン
-
白神 智
(株)イオンテクノセンター
-
大谷 亮太
九州シンクロトロン
-
川戸 清爾
九州シンクロ
-
平井 康晴
九州シンクロ
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