Si貫通電極を用いた積層メモリ・ロジック混載モジュールの開発と将来展望(<特集>システムインテグレーション実装技術の現状と展望)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 2009-07-01
著者
-
天明 浩之
日立製作所
-
天明 浩之
株式会社日立製作所
-
松嶋 直樹
株式会社日立製作所生産技術研究所
-
米田 奈柄
株式会社日立製作所機械研究所
-
中 康弘
株式会社日立製作所機械研究所
-
土田 悟
日立化成工業株式会社電子材料事業部
関連論文
- 自然エネルギ活用への貢献を
- Si貫通電極を用いた積層メモリ・ロジック混載モジュールの開発と将来展望(システムインテグレーション実装技術の現状と展望)
- ポスターセッション ショートプレゼンテーション(3)(第23回エレクトロニクス実装学会講演大会セッションサマリー)
- PbフリーBGAはんだ接続部の衝撃耐性評価手法の確立(第2報)はんだ接続部応力による衝撃耐性評価方法の検討
- PbフリーBGAはんだ接続部の衝撃耐性評価手法の確立(第1報)衝撃破断モードの基板ひずみ依存性の検討
- 樹脂埋め込み型フェイスアップ高周波 MCM
- PbフリーBGAはんだ接続部の衝撃耐性評価手法の確立 : (第1報)衝撃破断モードの基板ひずみ依存性の検討
- 半導体パッケージNSMDはんだ接続部の疲労強度評価(電子機器の熱・機械信頼性と機械工学)
- 半導体レーザ光学系の光軸測定法
- ウエハプロセスパッケージ搭載マルチチップモジュール高信頼化のための構造最適化
- 樹脂製インターポーザーを使用したマルチチップモジュールの構造信頼性向上
- 半導体パッケージはんだ接続パッド引出し配線の疲労強度評価
- 半導体パッケージの反り挙動に及ぼす残留応力の影響 (MEMS 2006 第16回マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集)
- BGA各種接続構造の寿命評価手法の開発(OS1c 電子デバイス実装・電子材料と計算力学)
- プリント基板配線の疲労強度評価手法の検討(技術OS3-2 微小材料強度評価,技術OS3 電子・情報機器と材料力学)
- 温度サイクル寿命を向上するNSMDはんだ接続部の寿命予測手法の検討
- 高信頼度BGAパッケージの構造設計
- 磁気ディスク装置用GMRヘッドの磁気特性におよぼす応力の影響
- 433 ズーミング解析による半導体パッケージのはんだ寿命予測(OS01-2 電子デバイス実装・電子材料と計算力学(2))(OS01 電子デバイス実装・電子材料と計算力学)
- 薄膜磁気ヘッドのピール試験法によるはく離強度評価
- B-4-74 近傍磁界分布計測の高精度化
- テープ状フィルムの一括積層方式による多層配線板の開発
- 光配線技術の研究動向と将来展望(光配線と高速伝送技術,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- 光配線技術の研究動向と将来展望(光配線と高速伝送技術,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地)
- 放熱フィン一体形プラスチックLSIパッケージの熱設計
- PbフリーBGAはんだ接続部の衝撃耐性評価手法の確立(第2報) : はんだ接続部応力による衝撃耐性評価方法の検討
- (19) 2B2 : モジュール実装 (2. 会議の概要, MES 2001 報告, 第 11 回マイクロエレクトロニクスシンポジウム)
- 721 BGAはんだ接続部の衝撃耐性解析手法の検討(OS4.電子デバイス・電子材料と計算力学(4),オーガナイズドセッション)
- J0601-4-1 高温熱処理後のSn3Ag0.5Cuはんだ接合部の疲労寿命評価([J0601-4]電子情報機器,電子デバイスの強度・信頼性評価と熱制御(4))
- PbフリーBGAはんだ接続部の衝撃耐性評価手法の確立 : (第2報)はんだ接続部応力による衝撃耐性評価方法の検討
- J031031 高温劣化を考慮したSn3AgO.5Cuはんだ接合部の疲労寿命予測手法([J03103]電子情報機器,電子デバイスの強度・信頼性評価と熱制御(3))
- 可変周波数共振器を用いたチューナブルデュプレクサの開発(マイクロ波ミリ波,一般)
- 超音速フリージェットPVDによる高抵抗AlN膜の形成