25pTE-4 エチレン終端Si(100)基板におけるF_4-TCNQのSTM観察(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2008-02-29

著者

• 吉信 淳

  東大物性研

• 山下 良之

  物材機構

• 向井 孝三

  東大物性研

• 吉信 淳

  東京大学物性研究所

• 山下 良之

  東大物性研

• 小口 和博

  東大物性研

• 利田 祐麻

  東大物性研

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