常活性ラインに基づく高性能/低リーク・キャッシュの消費エネルギー評価(回路技術(一般, 超高速・低電力・高機能を目指した新アーキテクチャ))
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概要
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我々はこれまでに, 高性能かつ低リークなキャッシュを提案した.この手法は性能低下を引き起こすラインを常に活性状態として動作させる事でペナルティを低減する.これまではリーク消費エネルギーおよび性能のみの評価であった.そこで本稿では, 下位記憶階層へのアクセスに伴う消費エネルギーや, 本手法適用に伴うエネルギー・オーバヘッド等も含めた消費エネルギーを詳細に評価した.我々が提案する高性能/低リーク・キャッシュを適用すると, 従来の低リーク・キャッシュであるCache decay方式よりも8%程度のエネルギー・オーバヘッドで最大20%もの性能低下を抑制できた.また, 本方式が有効に動作した場合, Cache decayに比べ消費エネルギーの削減効果も得られた.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-12-08
著者
-
村上 和彰
九州大学大学院システム情報科学府
-
井上 弘士
科学技術振興機構さきがけ
-
小宮 礼子
福岡大学工学研究科電子情報工学専攻:財団法人九州システム情報技術研究所
-
小宮 礼子
福岡大学大学院工学研究科電子情報工学専攻
-
村上 和彰
九州大学大学院 システム情報科学研究院 情報知能工学部
-
村上 和彰
九州大学大学院 システム情報科学研究院 情報理学部門
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