スリット型プローブを用いたミリ波帯近接場顕微鏡の基礎特性
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概要
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従来の光学顕微鏡における分解能は、回折現象により観測波長の1/2程度に制限される。波長以下の開口をプローブとする近接場顕微鏡は無優麟、高信頼性、低コストといった従来の光学顕微鏡の利点を保持すると同時に、波長の数十分の一の分解能を達成することが可能である。本近接場顕微鏡においては、上記分解能を達成するために波長よりも十分小さな点開口をプローブとして用いるため、プローブは遮断周波数以下の条件で動作することになる。そのため信号強度が極めて微弱になり、画像取得に要する時間が極めて長くなるという欠点を有していた。我々は遮断周波数以上で動作可能な、波長と同程度の長さを持つスリットをプローブとして用いる新型近接場顕微鏡を提案し、ミリ波帯においてその原理検証実験に成功したので以下に報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-08-13
著者
-
藤井 哲
新日本無線株式会社
-
莅戸 立夫
東北大学電気通信研究所
-
莅戸 立夫
東北大通研
-
水野 皓司
理化学研究所フォトダイナミクス研究センター
-
莅戸 立夫
理化学研究所
-
伊藤 匡稔
東北大学電気通信研究所
-
〓 鐘石
名古屋工業大学大学院機能工学専攻
-
〓 鐘石
理化学研究所フォトダイナミクス研究センター
-
藤井 哲
理化学研究所フォトダイナミクス研究センター
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