スリット型プローブを有するミリ波帯近接場顕微鏡システムを用いた定量測定
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概要
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ミリ波帯走査型近接場顕微鏡は, 波長以下の高い空間分解能によるの非破壊材料検査等の利用が期待されている.本近接場顕微鏡システムでは, 物体からの反射係数がコントラストとして画像化される.そのため, 例えば比誘電率などの, 直接反射係数に変化を与える物体の物性定数を, コントラストから評価することが可能である.本発表では, コントラストの定量評価実現に向けた検討として, 以下の2点について報告する.1)測定値の誤差を与える原因は有限サイズの平板誘電体にあることを突きとめ, 平板誘電体の表面波伝搬が低減されるようにシステム構造の改善を行なった.その結果, 10%以上あった測定不確定率が5%以内に低減された.2)コントラストの定量評価には, 物性定数と反射係数との相関関係を理論予測する必要がある.そこで, スリット型プローブを有する本近接場顕微鏡システムの等価回路を新たに構成し, その妥当性を実験的に確認した.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-10-13
著者
-
水野 皓司
東北大学電気通信研究所
-
縫村 修次
東北大学 電気通信研究所
-
浜野 哲子
東北大学電気通信研究所
-
縫村 修次
東北大学電気通信研究所
-
渡辺 文夫
東北大学電気通信研究所
-
莅戸 立夫
東北大学電気通信研究所
-
〓 鐘石
東北大学電気通信研究所
-
浜野 哲子
東北大学 電気通信研究所
-
渡辺 文夫
東北大学 電気通信研究所
-
莅戸 立夫
東北大通研
-
〓 鐘石
名古屋工業大学大学院機能工学専攻
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