スポットサイズ変換LDの近端戻り光雑音特性
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概要
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半導体レーザの出射ビーム角を狭めたスポットサイズ変換レーザ(SS-LD)は、レンズ等を介さずに光ファイバ等の光導波路と高い結合効率を達成し、かつ、光軸調整時の実装精度を緩和するのに有効である。ところで、光導波路との結合特性が向上した場合、レーザへの戻り光量の増加によるレーザ特性そのものの劣化が懸念される。ファイバ出力端等の遠端からの耐戻り光特性については、すでに報告されているが、レンズレスでの実装の際、特に問題となる結合導波路入射端(近端)からの戻り光についての報告はない。今回、SS-LDと導波路端の距雄が200μm以下の領域で戻り光量を変化させ、レーザの特性変化を相対強度雑音(RIN)によって評価した。その結果を報告する。
- 1996-09-18
著者
-
岡本 浩
NTT 光エレクトロニクス研究所
-
東盛 裕一
NTT 光エレクトロニクス研究所
-
界 義久
NTT 光エレクトロニクス研究所
-
和田 正人
NTT光エレクトロニクス研究所
-
黒崎 武志
NTT 光エレクトロニクス研究所
-
鳥羽 弘
NTT 光エレクトロニクス研究所
-
東盛 裕一
Ntt フォトニクス研究所
-
界 義久
NTTフォトニクス研究所
-
和田 正人
NTT 光エレクトロニクス研究所
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