1MビットSRAMの故障解析
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概要
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SRAMのテスト方が研究されている.SRAMの欠陥についてデータが報告されている.マスクROMでは外部ピンを通した故障解析が報告されている.本稿では,市販のメモリテスターを用いて1MビットSRAMの故障解析をおこなった結果を報告する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1995-03-27
著者
-
中村 重男
千葉大学工学部情報工学科
-
岩崎 一彦
千葉大学 工学部 情報工学科
-
後藤 啓之
千葉大学工学部情報工学科
-
岩崎 一彦
千葉大学工学部情報工学科
-
篠木 政俊
千葉大学工学部情報工学科
-
後藤 啓之
千葉大学 工学部
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