検出困難故障用パターンを生成するLFSRのテスト長について
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概要
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BIST用疑似乱数発生器として,LFSRが用いられる.被テスト回路に検出困難故障が存在するとき,LFSRを用いたテストパターン生成に必要なテスト長について検討する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1995-03-27
著者
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