デイジタルディレイ回路マクロセル搭載可能GaAs 10Kゲートアレイ
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概要
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LSIの高速化に伴い、計測器分野では分解数十psのタイミング調整可能なディレイ回路に対する要求が高まっている。このディレイ回路は高分解可能を実現するために従来ECLを用いたアナログICが用いられてきたが、計測器の低コスト、低消費電力化の中で、ディジタル化が検討されている。今回、タイムスパン16.0ns、最小分解能50psのディジタルディレイ回路を搭載可能なGaAs 10Kゲートアレイを開発したので報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1995-03-27
著者
-
太田 彰
三菱電機株式会社
-
平間 哲也
三菱電機株式会社
-
東坂 範雄
三菱電機株式会社高周波光デバイス製作所
-
島田 征明
三菱電気株式会社光・マイクロ波デバイス開発研究所
-
東坂 範雄
三菱電気株式会社光マイクロ波デバイス開発研究所
-
太田 彰
三菱電気株式会社光マイクロ波デバイス開発研究所
-
細木 健治
三菱電気株式会社光マイクロ波デバイス開発研究所
-
谷野 憲之
三菱電気株式会社光マイクロ波デバイス開発研究所
-
平間 哲也
三菱電気株式会社光・マイクロ波デバイス開発研究所
-
谷野 憲之
三菱電機
-
島田 征明
三菱電機株式会社高周波光デバイス製作所
-
東坂 範雄
三菱電機株式会社
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