研磨によるPANDAファイバ端面の欠陥発生
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概要
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前報の二次元PANDAファイバアレーの試作では、PANDAファイバの端面にクラックが存在すると、偏光クロストークが低下することを報告した。この欠陥発生については、PANDAファイバの特殊性と一般の研磨加工の傾向等から研磨の過荷重が原因と推定し、その確認の実験を行った。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1995-03-27
著者
-
大平 文和
日本電信電話(株)通信エネルギー研究所
-
大平 文和
Ntt境界領域研究所
-
山本 剛
日本電信電話(株)nttマイクロシステムインテグレーション研究所
-
山本 剛
NTTネットワークサービスシステム研究所
-
小薮 国夫
NTT境界領域研究所
-
小藪 国夫
日本電信電話(株)通信エネルギー研究所
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