磁界プローブを用いたIC電源端子の高周波電流推定
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概要
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多層板磁界プローブを用いてIC電源端子から漏洩する高周波磁界を測定し、IC電源端子の高周波電流の推定を行った。DUTとして回路設計条件を変更したデジタルICを用いて磁界測定を行った結果、設計条件に応じて電源端子に接続されたプリント配線パターン上の磁界強度が変動することが分かった。さらに、測定された磁界強度からマイクロストリップライン上の電流と磁界の関係を表す近似式を用いてIC電源端子の電流値を推定した結果について述べる。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1998-04-23
著者
-
荒井 賢一
東北大学電気通信研究所
-
山口 正洋
東北大学電気通信研究所
-
玉置 尚哉
日本電気(株)
-
増田 則夫
日本電気(株)
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玉置 尚哉
日本電気株式会社生産技術研究所実装設計テクノロジーグループ
-
増田 則夫
日本電気株式会社生産技術研究所実装設計テクノロジーグループ
-
遠矢 弘和
日本電気株式会社
-
遠矢 弘和
日本電気(株)生産技術研究所
-
山口 正洋
東大 大学院医学系研究科
-
和深 裕
NEC実装研
-
渡辺 毅
NECエレクトロニクス(株)基盤開発(事)
-
和深 裕
日本電気(株)資源環境技術研究所
-
渡辺 毅
日本電気(株)半導体品質保証本部
-
和深 裕
株式会社NEC情報システムズ
-
遠矢 弘和
日本電気(株) Necラボラトリーズ 生産技術研究所
-
渡辺 毅
Necエレクトロニクス株式会社設計技術事業部
-
和深 裕
日本電気(株)デバイス評価技術研究所
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