和深 裕 | 日本電気(株)デバイス評価技術研究所

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概要

• 同名の論文著者
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関連著者

• 遠矢 弘和

  日本電気(株)生産技術研究所

• 和深 裕

  NEC実装研

• 和深 裕

  日本電気(株)資源環境技術研究所

• 遠矢 弘和

  日本電気(株) Necラボラトリーズ 生産技術研究所

• 和深 裕

  日本電気(株)デバイス評価技術研究所

• 和深 裕

  株式会社NEC情報システムズ

• 小川 雅寿

  日本電気株式会社システム実装研究所

• 小川 雅寿

  日本電気(株)生産技術研究所 EMC技術センター

• 小川 雅寿

  日本電気(株) Necラボラトリーズ 生産技術研究所

• 荒井 賢一

  東北大学電気通信研究所

• 山口 正洋

  東北大学電気通信研究所

• 玉置 尚哉

  日本電気(株)

• 増田 則夫

  日本電気(株)

• 玉置 尚哉

  日本電気株式会社生産技術研究所実装設計テクノロジーグループ

• 増田 則夫

  日本電気株式会社生産技術研究所実装設計テクノロジーグループ

• 遠矢 弘和

  日本電気株式会社

• 山口 正洋

  東大 大学院医学系研究科

• 渡辺 毅

  NECエレクトロニクス(株)基盤開発(事)

• 渡辺 毅

  日本電気(株)半導体品質保証本部

• 入野 仁

  日本電気(株)デバイス評価技術研究所

• 渡辺 毅

  Necエレクトロニクス株式会社設計技術事業部

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著作論文

• 磁界プローブを用いたIC電源端子の高周波電流推定
• EMIシミュレーション用LSI電源モデルの検討
• LSI電源モデルを用いた解析方法の検討
• EMIシミュレータにおけるLSI電源モデルの記述方法の検討
• LSIのEMIシミュレーション用電源モデルの検討

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