故障シミュレータを用いたゲート/機能ブロック内部の故障絞り込み

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概要

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LSIの高密度化・微細化が進むにつれて、電子ビーム(EB)プローブによる故障診断が困難になって来ている。故障診断の作業を減らすために、事前に出来るだけ狭い範囲にまで故障箇所を絞り込んでおく必要がある。これまでにも、テスターでのエラー状況と故障シミュレータなどを用いた故障の絞り込み手法が報告されているが、ゲートや機能ブロック内部に故障があった場合、故障による振る舞いが一致しないため正しい絞り込みが出来なかった。今回提案する手法は、各ゲートや機能ブロックの出カピンに縮退故障を定義して故障シミュレーションすることで、ゲートや機能ブロック内部の故障を絞り込むものである。本手法を紹介し、本手法を組み込んだシステムでの試行結果から有効性を示す。
一般社団法人情報処理学会の論文
1995-05-26

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