EWS上の高性能テストDAシステムHIPER(1) : エラーパタン自動修正機能シミュレータ
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概要
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高品質なVLSI化装置を出荷するには、VLSIを十分に検査し、欠陥の無いチップだけを選別する高品質なテストデータを作成する必要がある。これを支援し、テストデータの品質向上とコンピュータの設計期間短縮を目指して、当社ではEWS4800上で稼働するテストDAシステムHIPERを開発した。HIPERは主な機能として論理/故障シミュレーション機能、テストパタン自動生成機能を有する。以下では、HIPERの機能の内、論理シミュレーションの最中にテストパタンがテスタの動作条件を満たしているかどうかをチェックし、エラーと判定した場合はパタンの自動追加を行いテスタでエラーの無いテストパタンを生成する論理シミュレータのパタン自動修正機能について報告する。
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 1993-09-27
著者
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