EWS上の高性能テストDAシステムHIPER(2) : スキャンATG及び故障シミュレータ
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概要
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従来当社では、汎用大型機上に構築したテストDAシステムを使用してテストデータを作成していた。しかし、CADシステム全体としての設計環境がワークステーション上に移ってきたこと、そして何よりも、回路の高集積化による運用時間の増大が問題となってきた。そこで新たにEWS4800上で稼働するテストDAシステムHIPERを開発し、その結果、従来システムに比べ充分満足できる結果が得られた。以下、2から4章では、HIPEERの機能の基本となる(1)モデリング機能,(2)故障シミュレーション機能,(3)スキャンパスATGに関しての主な特徴・工夫を、5章で実際の回路に適用した結果について、そして6章でまとめと今後の課題について述べる。
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 1993-09-27
著者
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