深海底質土の低希釈率による理論α係数補正/蛍光X線分析

概要

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深海底質土を低希釈率でガラスビードを調製し, マトリックスの補正に理論α係数を用いる蛍光X線分析法について検討した.試料を融剤として82.2% Li_2B_4O_7,15% Li_2CO_3,2% NaNO_3,0.8% NaIを用い, 600℃で5分間予備酸化し, 1050〜1100℃で7分間溶融・かき混ぜることにより, 希釈率を1.2まで低減することができた.希釈率10と検出限界(3σ of background)を比較した結果Mn 5.3/l.5,Cr 7.0/2.l, Sr 4.2/l.5,Pb 4.7/1.9,Ni 4.6/l.2,Zn 4.l/1.6,Cu 3.2/2.4であった.又, 強熱減量や強熱増量を正確に把握し希釈率を一定にすることにより, 複雑な計算を行わず迅速に定量ができた.マトリックス効果の補正に理論α係数法を適用することにより正確さ(σ_d)が向上した.たい積岩試料GSJ JLk-1及びGSJ JSd-1を分析した結果, 表示値と良い一致を示した.標準試料1個を用いたFP法は微量元素の分析精度は若干落ちるものの簡便で迅速な分析法であった.本法を各種深海底質土分析に適用し, 満足すべき結果を得た.
社団法人日本分析化学会の論文
1995-02-05