28pWP-2 Ge/Si(105)-2×1表面の高分解能AFM観察(表面界面構造(半導体))(領域9)

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2004-03-03

著者

• 森川 良忠

  阪大産研

• 寺倉 清之

  北陸先端大

• 長谷川 幸雄

  東大物性研

• 櫻井 利夫

  東北大金研

• 小野 雅紀

  東大物性研

• 江口 豊明

  東大物性研

• 寺倉 清之

  産総研

• 安 東秀

  東大物性研

• 森川 良忠

  産総研

• 藤川 安仁

  東北大金研

• 寺倉 清之

  産総研:北陸先端大

• 安 東秀

  東大物性研:jst

• 桜井 利夫

  東北大wpi

• 長谷川 幸雄

  東京大学物性研究所

• 江口 豊明

  東京大学物性研究所

• 秋山 琴音

  東京大学物性研究所

• 小野 雅紀

  理化学研究所

• 秋山 琴音

  東大物性研

• 櫻井 利夫

  東北大学金属材料研究所

• 橋本 保

  産総研

• Lagally M.

  Univ. of Wisconsin-Madison

• 橋本 保

  産総研計算科学

• 寺倉 清之

  Jrcat 産業技術融合領域研究所

• 櫻井 利夫

  東北大学際センター

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