Ge/Si(105)表面の原子間力顕微鏡観察

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概要

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• 日本表面科学会の論文
• 2005-08-10

著者

• 森川 良忠

  阪大産研

• 寺倉 清之

  北陸先端大

• 長谷川 幸雄

  東大物性研

• 小野 雅紀

  東大物性研

• 江口 豊明

  東大物性研

• 森川 良忠

  大阪大学産業科学研究所

• 藤川 安仁

  東北大金研

• 寺倉 清之

  産総研:北陸先端大

• 安 東秀

  東大物性研:jst

• 桜井 利夫

  東北大wpi

• 長谷川 幸雄

  東京大学物性研究所

• 江口 豊明

  東京大学物性研究所

• 秋山 琴音

  東京大学物性研究所

• 小野 雅紀

  理化学研究所

• 藤川 安仁

  東北大学金属材料研究所

• 安 東秀

  東京大学物性研究所

• 小野 雅紀

  東京大学物性研究所

• 橋本 保

  産業技術総合研究所計算科学部門

• 寺倉 清之

  北海道大学創成科学研究機構

• 櫻井 利夫

  東北大学金属材料研究所

• LAGALLY Max

  University of Wisconsin-Madison

• 橋本 保

  産総研

• Lagally M.

  Univ. of Wisconsin-Madison

• 寺倉 清之

  Jrcat 産業技術融合領域研究所

• 櫻井 利夫

  東北大学際センター

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