LEEDによる構造解析システム : MacintoshによるI-V曲線測定とテンソルLEED計算

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1996-09-13

著者

• 栃原 浩

  九大総理工

• 水野 清義

  北大触媒セ

• 栃原 浩

  北大触媒研

• 栃原 浩

  九大工

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