平行ビームを使ったX線トポグラフィによるSiCの転位観察

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概要

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• 日本結晶学会の論文
• 2012-02-29

著者

• 松畑 洋文

  産業技術総合研究所

• 山口 博隆

  産業技術総合研究所

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