標準CMOSプロセスを用いたμTAS向け偏光検出イメージセンサ
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概要
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We have proposed and demonstrated a technology for CMOS photosensor / image sensor that will be implemented onto μTAS. Polarization-analyzing CMOS sensor was realized with an idea of monolithically-embedded on-chip polarizer. The on-chip polarizer was configured with a metal wiring layer in standard CMOS fabrication technology. We describe concept, design of a polarization-analyzing CMOS photosensor array and a polarization-analyzing CMOS image sensor. We characterized performances of the fabricated sensors and confirmed that the proposed technology is feasible CMOS-based on-chip polarization analysis. We also successfully demonstrated polarimetric measurements of chiral solutions using the fabricated sensors.
- 2009-08-01
著者
-
徳田 崇
奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科
-
太田 淳
奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科
-
笹川 清隆
奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科
-
太田 淳
奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科:jst Crest
-
太田 淳
三菱電機株式会社先端技術総合研究所
-
笹川 清隆
奈良先端科学技術大学院大学
-
笹川 清隆
奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科:jst Crest
-
徳田 崇
大阪大学 大学院医学系研究科脳神経感覚器外科学(眼科学)講座
-
山田 博文
奈良先端科学技術大学院大学 物質創成科学研究科
-
田 崇
奈良先端科学技術大学院大学
-
太田 淳
奈良先端科学技術大学院大
-
笹川 清隆
奈良先端科学技術大学院大
-
徳田 崇
奈良先端科学技術大学院大学
-
笹川 清隆
奈良先端科学技術大学院大学, JST-CREST
-
笹川 清隆
奈良先端科学技術大学院大学:JST-CREST
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